納米線（Nano wire）為一種橫向上被限制在100納米以下（縱向沒(méi)有限制）的一維材料，根據(jù)組成材料的不同，納米線可分金屬納米線、半導(dǎo)體納米線和絕緣體納米線。

作為納米材料的一種，納米線具備泰克應(yīng)用文章《納米材料綜測(cè)試綜述》中概述的納米材料全部特性，在電子、光電子和納電子機(jī)械中，納米線起到很重要的作用。它同時(shí)還可以作為合成物中的添加物、量子器械中的連線、場(chǎng)發(fā)射器和生物分子納米感應(yīng)器等。

碳納米管，又名巴基管，碳的同素異形體，是一種典型的納米纖碳納米館的分類(lèi)，如下圖所示。

碳納米管的應(yīng)用十分廣泛，下圖示意出碳納米管的典型應(yīng)用。

碳納米管的性質(zhì)可以從電學(xué)、力學(xué)、熱學(xué)、儲(chǔ)氫及其他性質(zhì)五個(gè)方面表征，其電學(xué)性質(zhì)如下圖。

碳納米管特殊的電學(xué)性能，使其被廣泛用于制作碳納米管電子器件。

納米線/碳納米管及電子器件測(cè)試：

碳納米管電子器件主要包括碳納米管場(chǎng)發(fā)射器、碳納米管FET、單電子晶體管、碳納米傳感器、碳納米管存儲(chǔ)器、碳納米管開(kāi)關(guān)、碳納米管集成電路和碳納米管計(jì)算機(jī)。

納米線碳納米管電學(xué)性能測(cè)試面臨的挑戰(zhàn)已經(jīng)在《納米材料測(cè)試綜述》討論過(guò)，在此不再贅述。

I-V測(cè)試是納米線碳納米管最基本的電性能測(cè)試，SMU是基本測(cè)試以及不同種類(lèi)的碳納米管，需不同的SM U進(jìn)行測(cè)試，SMU選擇依據(jù)為：

被測(cè)樣品電阻范圍施加或測(cè)試的電流范圍以及施加或測(cè)試的電壓范圍

被測(cè)樣品所需SMU通道數(shù)

被測(cè)樣品是否有脈沖測(cè)試需求

被測(cè)樣品是否有電容測(cè)試需求

SMU選型指南詳見(jiàn)《納米材料測(cè)試綜述》。

納米線/碳納米管及電子器件綜合測(cè)試方案：

硬件：

4200A-SCS主機(jī)

4200 SMU模塊，模塊數(shù)量由通道數(shù)決定

4200PA，選件，依據(jù)最小測(cè)試電流的數(shù)量與SMU模塊匹配

4225 PMU，選件，依據(jù)脈沖需求定，模塊數(shù)由通道數(shù)定，是否加放大器由最小測(cè)試電流定

4210CVU，選件，有電容特性測(cè)試需求時(shí)配置

納米探針臺(tái)（第三方）。

軟件：

Clarius

優(yōu)勢(shì)：

測(cè)試范圍寬，滿足全部種類(lèi)納米線/碳納米管及其電子器件測(cè)試需求；

多種配置滿足不同的應(yīng)用需求；

內(nèi)置多種納米線/碳納米管器件庫(kù)，調(diào)用后自動(dòng)生成相應(yīng)器件的測(cè)試流程。

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