CH-12 綜合性分析探針臺測試系統(tǒng)

　　CH-8|8"~12"綜合性分析探針臺測試系統(tǒng)

　　特點/應(yīng)用

　　◆最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試

　　◆同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu)，線性移動

　　◆大手柄驅(qū)動，操作舒適，無回程差設(shè)計

　　◆針座平臺快速、微調(diào)升降功能

　　◆可搭配多種類型顯微鏡

　　◆晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

　　◆結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計，可無縫升級

　　◆探針臺可根據(jù)客戶要求定制。

　　可選附件：加熱臺顯示器轉(zhuǎn)接頭射頻測試配件屏蔽箱光學(xué)平臺鍍金卡盤光電測試配件高壓測試配件顯微鏡快速傾仰裝置激光系統(tǒng)探針卡夾具

　　規(guī)格及設(shè)計如有更改，恕不另行通知。