TH510系列半導體器件CV特性測試

　　同惠TH510系列半導體CV特性分析儀的產品介紹：

　　是常州同惠電子根據當前半導體功率器件發(fā)展趨勢設計的分析儀器。

　　采用一體化集成設計，可一鍵測試二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性，單管和模組功率器件均可快速測試，適用于生產線快速測試和自動化集成。

　　CV曲線掃描分析能力滿足實驗室對半導體材料及功率器件的研發(fā)及分析。

　　設計頻率為1kHz2MHz，VGS電壓可達±40V，VDS電壓可達±200V/±1500V/±3000V。

　　應用領域：

　　半導體元件/功率元件：二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光電子芯片等寄生電容測試、CV特性分析。

　　半導體材料：晶圓切割、CV特性分析。

　　液晶材料：彈性常數分析。

　　電容元件：電容器CV特性測試及分析，電容式傳感器測試分析。